Medição do campo de deformações por shearografia speckle Conference Paper uri icon

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  • Neste trabalho apresenta-se o desenvolvimento de um sistema interferométrico para medição do campo de deformações no plano a partir da técnica de Shearografia Speckle com dupla iluminação. No sentido de definir o procedimento e optimizar todo o processo de medição, foi desenvolvido um modelo matemático representativo da interferência das frentes de onda proveniente do objecto, sendo analisados os parâmetros que influenciam a qualidade dos resultados, tais como: o ângulo de iluminação, o passo da derivada, a amplitude de deformação e o ruído de Speckle. A partir dos dados recolhidos foi construído um sistema de Shearografia Speckle baseado no interferómetro de Michelson e que utiliza a técnica de modulação temporal de fase, criado pela translação de um dos espelhos por actuação de um piezoeléctrico. O sistema foi utilizado na medição das deformações no plano de um provete submetido à tracção. A sensibilidade do sistema e a qualidade das medições são analisadas, tendo como referência as soluções numéricas obtidas por elementos finitos.
  • Neste trabalho apresenta-se o desenvolvimento de um sistema interferométrico para medição do campo de deformações no plano a partir da técnica de Shearografia Speckle com dupla iluminação. No sentido de definir o procedimento e optimizar todo o processo de medição, foi desenvolvido um modelo matemático representativo da interferência das frentes de onda proveniente do objecto, sendo analisados os parâmetros que influenciam a qualidade dos resultados, tais como: o ângulo de iluminação, o passo da derivada, a amplitude de deformação e o ruído de Speckle. A partir dos dados recolhidos foi construído um sistema de Shearografia Speckle baseado no interferómetro de Michelson e que utiliza a técnica de modulação temporal de fase, criado pela translação de um dos espelhos por actuação de um piezoeléctrico. O sistema foi utilizado na medição das deformações no plano de um provete submetido à tracção. A sensibilidade do sistema e a qualidade das medições são analisadas, tendo como referência as soluções numéricas obtidas por elementos finitos.

publication date

  • September 2011